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盛美新一代Ultra C SAPS III兆声波单片清洗设备亮相Semicon

2014-03-17 08:00 6509
由盛美半导体设备(上海)有限公司自主研发的新一代12英寸8腔Ultra C SAPS III兆声波单片清洗设备亮相Semicon China(展位:N2馆2567)。
 

上海2014年3月17日电 /美通社/ -- 由盛美半导体设备(上海)有限公司自主研发的新一代12英寸8腔Ultra C SAPS III兆声波单片清洗设备亮相Semicon China(展位:N2馆2567)。此台设备较大的三个亮点为:小面积、高效率、更环保。

“随着技术节点进入20纳米,清洗工艺的步数在不断增加,几乎接近全部生产工艺的三分之一,需要的单片清洗设备更多。此时,为了提高fab的产能,减少单片清洗设备的占地面积成为刻不容缓的需求。”盛美半导体设备公司的创始人、首席执行官王晖博士说,“在不损失芯片材料的同时,去除微小颗粒及污染成为当今清洗工艺的一大难题。盛美用独创的SAPS(Space Alternated Phase Shift)兆声波技术与更稀的化学液(ppm量级)配合,可以解决这一难题。装备该技术的Ultra C SAPS II已在国际大生产线上稳定运行两年多,大幅提高了客户产品的良率。”

这台Ultra C SAPS III兆声波单片清洗设备占地面积仅为2.25米(W)×2.5米(L),是传统单片清洗设备占地面积的二分之一,是目前业界同级别,相同配置中面积较小的12英寸单片清洗设备,较大产量可达400片/小时。设备可根据工艺需求,配置两种化学液,ppm量级的化学液也可缓解当今fab受到的日益增长的环境保护的压力。

消息来源:盛美
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关键词: 机械制造 半导体
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