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桃园2018年9月5日电 /美通社/ -- 致茂电子在半导体测试领域拥有众多产品线，从研发至量产阶段所需之设备，包括ATE大型测试系统、IC分选机以及PXI/PXIe小型化测试平台，皆有完整相对应产品提供客户最适合的选择，致茂集团更增加半导体前端制程的溶液监测与可符合趋势应用的AIoT连接测试解决方案。今年于SEMICON Taiwan将会实机展出SuperSizer溶液奈米粒子监测系统，现场可亲自体验鹰眼级的测试设备。
鹰眼级SuperSizer溶液奈米粒子监测系统
半导体制程技术以极快的速度进步到10奈米、7奈米线宽，在不久的将来更将到5奈米甚至于3奈米。影响制程良率甚钜的奈米粒子监控技术现有技术只能勉强监控大于20奈米的粒子，远远不及产线需求。致茂集团旗下的兆晟奈米科技推出制程良率改善利器SuperSizer奈米粒子监测系统，提供客户对制程液体里小于20奈米的粒子大小及分布，并具有24小时即时监控的能力，能有效防范奈米缺陷形成于未然，大幅改善良率。
专为智慧连网所需的SoC测试系统
随着智慧连网家庭市场的发展，要让住家变得更聪明、更方便，关键在于人工智慧 (AI) 资料分析技术、大数据 (big data) 的统计、语音 (Audio) 辨识系统、以及提升家庭网路连线的技术与安全性。致茂电子近年积极发展专为智慧家庭生态系统所需的SoC晶片的测试设备，持续推出整合性更高的量测解决方案，以提供较低的测试成本且满足复杂SoC的测试应用需求。
HDAVO (High Density Audio Video Option) 高性能混和讯号解决方案，为针对语音 (Audio) 辨识系的SoC 所提供的高效能、高通道、高平行数的选购模组，拥有可同时输出的8(16)个差动源模组 (AWG) 和同时接收的8个差动测量模组 (DGT)，且在每一个差动源模组 (AWG) 上能提供高达400Msps的取样频率和在每一个差动测量模组 (DGT) 上能提供高达250Msps的取样频率，具有高规格、低成本和多功能等优势，甚至能因应未来5G基频晶片所需的I/Q讯号的产生与开发导入。搭配CRISPro 软体套件，让使用者可以用图形化介面 (GUI) 或程式语言做测试程式的开发和除错 (debug) ，让使用者能更快完成程式的开发与导入量产。
IoT连接测试解决方案
Adivic MP5806 RF ATE测试方案，为致茂集团旗下的汇宏科技产品，针对 Chroma 半导体测试设备(VLSI / SoC测试系统)，客户在既有的数位/类比/混合讯号IC应用下，皆可经由选配添购Adivic MP5806，将测试设备扩充为俱备完整的射频晶片测试方案，可支援包含NB-IoT、GPS/BeiDou、Wi-Fi、Bluetooth与Tuner等各主要物联网 (IoT) 通讯标准，其所内含的10MHz~6GHz全频域覆盖之超高频宽VSG/VSA模组，更可泛用于未来各式无线通讯标准。
具备ATE功能的PXIe数位I/O卡
Chroma 33010为具有自动测试系统(ATE)功能的PXIe 架构PE card ，除传统ATE测试系统（Chroma 3380D - 256通道 、Chroma 3380P - 512通道 、Chroma 3380 - 1024通道）外，Chroma 33010更符合PXI 测试方案发展应用之趋势及需求，以因应未来更小IC通道及愈趋复杂功能之趋势，尤其在IoT 及汽车电子 IC测试上， PXI/PXIe架构在半导体测试无论在应用多变和弹性上都有一定优势。应用范围包含微控制器(MCU)、微机电(MEMS) 、射频IC(RF IC) 及电源IC (PMIC) 等测试方案。
SEMICON Taiwan (9月5-7日)，致茂电子将于台北南港展览馆一馆（摊位号：K2785）展出最新的半导体测试解决方案，我们也将提供客制化半导体/IC测试解决方案以满足您的特殊需求。我们相信，您将会有全新的体验与意想不到的收获。有您的支持，致茂才能更加茁壮，期待在本年度盛会中与您见面。
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