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桃园2020年2月20日 /美通社/ -- Chroma ATE Inc. 致茂电子推出真无线蓝芽耳机（True Wireless Stereo，以下简称 TWS）芯片完整测试方案，整合无线 RF、MCU 测试、数字电路、模拟电路，以及音频混合讯号量测。超高性价比的 Chroma 3380测试系统满足价格敏感的芯片设计商，进阶版 Chroma 3680测试系统，能提供快速且完整的测试方案，满足高阶高感度的 TWS 芯片测试需求。
TWS 芯片在近年来应用越来越广泛，从刚开始仅限于安装在耳机内，处理蓝芽与音频讯号的单纯芯片，TWS 使用的芯片已经发展到智能音箱、无线音箱，甚至穿戴装置都可以共享。也因为功能的急速整合，测试从单纯的无线蓝芽测试、数字测试与音频测试，延伸到电源、内存、甚至传感器等。
Chroma 半导体测试解决方案在各种半导体测试应用耕耘多年，高度软件与硬件整合已获业界肯定，可同时提供价格合理、质量精良的数字与模拟测试，Chroma 3380在中国 MCU 市场更是位居领先地位，除了可以测试 Bluetooth RF 外，在音频测试表现上可提供超过90dB 的信噪比，一站完成所有的测试需求。而针对高阶高感度的产品，Chroma 3680系列可以进行高速讯号测试，提供精准的电压电流测试，其混合讯号测试更提供超过 110dB 的信噪比，加上快速 RF 讯号连接接口，可更稳定测试高阶 TWS 产品。
