针对硅片和电池厂商以及光伏研发人员推出了两个系列的新软件升级产品
悉尼2014年5月16日电 /美通社/ -- BT imaging 将在2014年5月20日到22日参加于上海举办的第八届 SNEC 国际太阳能产业及光伏工程展。展位是 E3 大厅225号。BT imaging 此次推出了两个系列的新软件升级产品，可用于对线下 PL 检测设备 LIS-R2 和在线 PL 检测设备 QS-W2 的可选性升级。LIS-R2 软件升级着重于给研发者和工程师迄今为止都无法得到硅片和电池的信息。QS-W2 着重于帮助硅片和电池厂商减少成本和提升电池效率。
“我们一向把每年上海 SNEC 展会当成光伏界重要的事件来对待。我们也很高兴 SNEC 展会的时间恰好是我们想发布我们新产品的时间，”BT imaging 的 CEO Ian Maxwell 说道。“自从 BT imaging 过去参加了 SNEC 展会，我们一直致力于提升我们现有的产品。我们将要模拟展示的新软件升级产品是我们多年研发的积累。我们认为我们的客户将会对这些新升级软件非常兴奋。”
除了这些发布以外，BT imaging 也将会强调介绍现有的两款稳定的产品 LIS-R2 和 QS-W2。产品 LIS-R2 是顶级的线下实验室测量设备，擅长测量硅锭、硅片、电池和组件。此产品就像多功能瑞士军刀一样，集合了多种测量功能于一身并且容易使用。它适合用于研发、质量检测、全程质量监控、工艺除错、工艺改良和试运行。产品 QS-W2 是世界顶级的 PL 硅片在线检测系统。有别于其他产品，QS-W2 是被产品证明为有效的硅片分选和效率预测设备。
如需了解更多 BT imaging 的新产品和服务，欢迎前来参加2014年5月20日到22日第八届于上海举办的 SNEC 国际太阳能产业及光伏工程展。展位是 E3 大厅225号。获取更多信息，请到访 http://www.btimaging.com。
