上海2013年11月22日电 /美通社/ -- 美国蓝菲光学（Labsphere）将应邀参加2013年11月25日至27日在广州保利世贸中心博览馆举办的2013第三届高工LED照明展，展位号为2M73。
作为全球光测量领域的领导者，蓝菲光学的光谱测试系统及积分球用漫反射涂料享誉全球照明及LED行业，在全球拥有众多用户。蓝菲光学将在本次盛会上与参观者分享2013年度蓝菲光学在光谱测试领域取得的最新卓越成果。
届时，蓝菲光学不仅展示专为照明及LED工业类用户量身定制的LFC光谱测试系统，同时还将全方位展示蓝菲光学最新推出的新一代可自由定制系统模块的光谱测试系统 -- illumia® plus。
封装LED行业的用户可以了解如何利用蓝菲光学的I1000B型和I2000 A&B型平均光谱强度探头测量产品的CIE平均光谱强度。
参观者还可以在蓝菲光学的展位上看到现今市场上功能较强大的便携式光谱分析测试设备 --illumia® lite，并亲自体验蓝菲光学最新推出的光谱测试平台Integral®是如何彻底改变传统实验室测试方式的。 Integral®软件平台能让用户的测试不再受到地域的限制，只需一台可以访问HTML5浏览器的终端设备，便可以从全球任一地点看到实验室的测试结果。
作为全球首个定位于LED产业链的展览会，高工LED展以其独特的展示方式、高端的品牌定位，打造LED行业风向标，为业界搭建了一个专业而高品质的LED产品展示交流及采购平台。
